干涉測量具有極高的精度,在光學測量中占有重要的地位，它以光波長作為測量尺度和測量基準，在光學材料特性參數(shù)測試、光學薄膜厚度測試、光學元件特征參數(shù)測量、光學系統(tǒng)成像質量檢驗、精密測量、精密加工等方面有廣泛的應用。

項目提出了一種新型干涉測量法，可測量球形表面（例如透鏡） 的物理參數(shù)，獲得曲率半徑、頂點位置等信息。其機理是利用現(xiàn)代信號處理和機器學習分析球形表面干涉測量所形成的牛頓環(huán)干涉條紋， 從條紋中提取物理信息。

該干涉測量法區(qū)別于時間相移干涉儀，無需壓電陶瓷（PZT）產(chǎn)生多個相移幀圖進行處理。也區(qū)別于其它動態(tài)干涉儀，無需多臺相機或相位掩膜產(chǎn)生多幀圖或空間載波技術來完成測量。該干涉測量法可直接對單幅無載波的牛頓環(huán)干涉條紋進行分析，無需額外硬件裝置即可完成高精度動態(tài)測量，獲取球形表面的曲率半徑等物理參數(shù)。解決當前干涉測量方法對圖像需求量大、成像要求高、硬件成本高的問題， 同時又具備很好的抗干擾能力，特別是遮擋、灰塵、鏡面刮擦、噪聲等干擾情況。